Nano Letters
DOI: 10.1021/nl4021842
C. W. Luo, H. J. Wang, S. A. Ku, H.-J. Chen, T. T. Yeh, J.-Y. Lin, K. H. Wu, J. Y. Juang, B. L. Young, T. Kobayashi, C.-M. Cheng, C.-H. Chen, K.-D. Tsuei, R. Sankar, F. C. Chou, K. A. Kokh, O. E. Tereshchenko, E. V. Chulkov, Yu. M. Andreev and G. D. Gu
Click for full article
No comments:
Post a Comment