Chemistry of Materials
DOI: 10.1021/cm402423x
M. Retuerto, T. Emge, J. Hadermann, P. W. Stephens, M. R. Li, Z. P. Yin, M. Croft, A. Ignatov, S. J. Zhang, Z. Yuan, C. Jin, J. W. Simonson, M. C. Aronson, A. Pan, D. N. Basov, G. Kotliar and M. Greenblatt
Click for full article
No comments:
Post a Comment